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最終更新日:2022年12月19日

株式会社情報機構
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リチウム電池・燃料電池・触媒・錯体・高分子…構造・反応の本質を明らかにする

各種の材料・デバイスの構造・反応解析に用いられる XAFS(X線吸収微細構造)とEELS(エネルギー損失分光法) その利用法を詳解するとともに、測定・解析事例を集成。 基礎・原理から活用・実践までをわかりやすくまとめた1冊です。

    リチウムイオン電池分析機器・装置技術書・参考書
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【書籍】XAFS/EELSによる局所構造解析・状態分析技術

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基本情報

発刊  2014年9月29日  定価  55,000円 + 税 体裁  B5判ソフトカバー 240ページ  ISBN 978-4-86502-071-7 執筆者一覧(敬称略) ●渡部 孝((株)コベルコ科研) ●一國 伸之(千葉大学) ●宮永 崇史(弘前大学) ●奥村 和(工学院大学) ●片山 真祥(立命館大学) ●稲田 康宏(立命館大学) ●木口 賢紀(東北大学) ●溝口 照康(東京大学) ●折笠 有基(京都大学) ●内本 喜晴(京都大学) ●山本 和生((一財)ファインセラミックスセンター) ●入山 恭寿(名古屋大学) ●平山 司((一財)ファインセラミックスセンター) ●岩澤 康裕(電気通信大学) ●森 利之((独)物質・材料研究機構) ●脇田 久伸(佐賀大学) ●岡島 敏浩((公財)佐賀県地域産業支援センター) ●堀内 伸((独)産業技術総合研究所) ●福森 健三((株)豊田中央研究所) ●大久保 貴広(岡山大学) ●吉田 朋子(名古屋大学) ●田中 庸裕(京都大学) ●大塚 祐二((株)東レリサーチセンター)

価格帯

1万円 ~ 10万円

納期

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用途/実績例

※詳細はカタログをダウンロードしてご覧ください※ <XAFS/EELSによる測定・解析技術~基礎からテクニックまで~>  ・X線・電子線を用いた局所構造解析・状態分析技術の変遷と現状は? ●XAFS(X線吸収微細構造)…in situ測定・解析も ●EELS(エネルギー損失分光法)…(S)TEM-EELSを中心に <各種材料・デバイス向け事例> ●リチウム電池 ●燃料電池 ●高分子材料 ●錯体・CNT ●触媒

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