0.002nmの高分解能！ 分光干渉の問題を解決 リニアアレイCCD検出器搭載で高感度分析も実現
目的の元素のスペクトルが近接線の影響を受ける分光干渉が原因で、測定が困難なことがしばしばあります。高分解能の分光器は、近接線から測定目的元素のほとんどのスペクトルを分離し、その問題を解決します。 ■ PlasmaQuant 9100 Elite 高分解能分光器はスペクトル干渉の影響をうけにくく、ほとんどのアプリケーションで高感度の輝線を使用できます。さまざまなサンプルにおいて、優れた精度、確度および検出限界での分析が可能となります。 ■ PlasmaQuant 9100 高マトリックスに対応、広い測定範囲と高感度分析が可能です。受託分析での精確な結果、品質管理での信頼性、様々な業界での各種規制に対して最高水準の結果を提供します。 【特長】 ■分析結果に絶対的な信頼性をもたらす高分解能 ■トーチのメンテナンスが簡単なインテリジェントトーチデザイン ■幅広い濃度範囲に柔軟に対応するデュアルプラスプラズマビュー ■安定したプラズマ出力で長時間性能を保証
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基本情報
【測光方向】デュアルビュー（アキシャル・ラジアル） 【分光器】エシェルダブルモノクロメーター 【波長範囲】160～900nm 【検出器】リニアアレイCCD
価格情報
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納期
用途／実績例
高複合サンプルや未知のマトリックスなど、新素材や建材、石油化学製品や地質学的研究の分析、受託分析、品質管理、各種規制対象の分析に対応します。 詳細は、お問い合わせ下さい。
ラインアップ（2）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| PlasmaQuant 9100 Elite | 分解能：0.002nm@200nm |
| PlasmaQuant 9100 | 分解能：0.006nm@200nm |
カタログ（10）
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企業情報
Analytik Jena GmbH+Co.KG の前身は、1846年カール ツァイス氏によってドイツ イエナ市に創設されたカール ツァイス イエナ社で、Dr.エルンスト アッベが世界最初の分光計を発明し、製造販売を開始したのが化学分析機器事業の始まりです。 1995年、同社の分析機器部門が分離され、Analytik Jena として独立。 その後、数々の革新的技術開発により急速に発展し、世界市場において科学分析機器メーカーとしてグローバルなビジネスを展開しています。