データモデムの製造検査や伝送品質、トラブル原因等を迅速に把握することを可能にしました。
TN-M15はデータモデムの受信レベルやビットエラーなどの各種測定と発振機能を有したモデムテスタです。 データモデムの製造検査や回線との障害切り分け、伝送品質、トラブル原因等を迅速に把握することが出来ます。 【特徴】 ■タッチパネルによる簡単操作です ■複数の同期方式が可能です ■内部メモリにアナログデータを録音することが可能です ■録音したアナログデータは、PCへUSBを使って取り出すことが可能です
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基本情報
【仕様】 ■測定項目 ・ビットエラー測定 ・FOXテスト ・歪み測定 ・レベル測定 ・周波数測定 ・遅延時間測定 ■発振機能 ・正弦波(200Hz~9.99kHz) ・出力レベル(-20.0dBm~+5.0dBm) ■同期方式 ・調歩同期式(ST-SP) ・非同期式/従属同期式(APC) ・同期式(ST1-RT) ・同期式(ST2-RT) ・系統同期式(RT-RT)
価格帯
納期
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用途/実績例
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近年アナログモデムは、無線や光通信等による他の通信手段が従来のアナログ回線を使用したモデム通信に取って代わることが多くなり使用が減少してきました。 これによりLSIメーカもモデム用LSIの販売を中止するメーカが相次ぐことで従来から使用してきたモデムを作る事が困難な状況になっています。 弊社ではこのような状況をいち早く見通し、10年前よりモデムLSIに頼らずDSPを使用してソフトウェアにてモデムを実現するよう開発して参りました。 このことは、各電力会社様を始め多くの公共設備、或は工場プラント等の設備寿命が長い部門に於いては大変重要なことで、弊社のモデムはこのような部門に於いて十分な実績が御座います。 10年後、20年後に於いても同様の性能のモデムを作ることが出来るため将来において設備の追加、変更等でモデムが必要になった場合でも「モデムLSIが無いためモデムを作れない」と言う状況が無くなるため安心して現在のシステムにモデムをご使用になれます。 弊社のモデムは特定のモデムLSIに頼らないためDSPが有れば永久的に作り続ける事が可能です。