作業性を大幅に改善！
『AMC-7800』は、マスクガラス・シリコン・SiC・液晶基板・サファ イア基盤などのSEM観察用の断面試料を作製する為の破断装置です。 操作は5ステップのみと簡単で、短い時間で端麗な破断面持った観 察試料片を作製することができす。 また、作業性を大幅に改善させることが可能になります。 【特長】 ■無研磨 ■完全ドライカット ■高精度ケガキ機構採用 ■スキップケガキ機構採用 ■低ランニングコスト ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【仕様】 ■ケガキ精度：±15.0μm ■光学系：単眼ズーム式実態顕微鏡 ■画像系：CCDカメラ+15インチ液晶 ■倍率：約22倍～約140倍 ■本体サイズ：445W×535D×650H(mm) ■本体重量：約50kg ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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