代表的な表面分析であるEPMAやAESなどを解説した技術資料
技術資料『表面分析の概要』は、近年、製品開発や不具合の対応などで益々重要になっている、表面や界面の構造・組成の把握に用いられている、様々な「表面分析方法」について掲載した資料です。 本資料では、表面分析の基礎の基礎として、代表的な表面分析であるEPMAやAES、XPS、SIMS、TOF-SIMSを簡潔に解説しています。 【掲載内容】 ■表面分析の種類と特徴 ・EPMA ・AES ・XPS ほか 詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【掲載内容概要】 ■はじめに ・表面分析方法について ■表面分析の種類と特徴 ・各表面分析の特徴 ・EPMA（電子プローブマイクロアナライザー） ・AES（オージェ電子分光法） ・XPS（X線光電子分光法） ・SIMS（二次イオン質量分析法） ・TOF-SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析法） ■おわりに ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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株式会社ユニケミーは、親会社・関連会社がありませんので外部からの圧力を受けることなく、本当の第三者機関としてプライドを持ち信頼ある報告書を提供することで、お客様に安心と真実を提供できるパートナーとして貢献します。 蓄積された理化学技術と信頼ある計量証明事業の融合で幅広いサポート。 開発～製造で生まれる課題や製品クレームまで、幅広い現場の悩みをサポートします。