近赤外分光器としては破格の50万円で、900～1700nmの対象波長のスペクトルを検出測定できる！新時代の近赤外分光器センサー
小型NIR分光器センサー NIR Meterは、近赤外域900～1700nmを対象に米国T.I社のDLP(R)テクノロジーを用いて分光スペクトルを測定する小型NIR分光センサーです。 入射口はサンプル光を直接入射するウィンドウに加えて、 標準付属されるSMAアタッチメントを取り付けることで光ファイバー接続も可能となっております。 標準ソフトウェアでは、データタイプとして相対強度［count］及び、 反射率［%］/透過率［%］/吸光度［Abs］などの各種測定を行うことが可能で、二次微分・平滑化・波長補間などのデータ処理も充実しております。 また、受光ウィンドウの両側面に反射測定用のランプが内蔵されており、 外部光源を用意することなく本分光センサー単体で反射測定を行うこともできます。 【特徴】 ■DLP(R)テクノロジーを用いて、これまでにない低価格を実現 ■近赤外対象900～1700nm ■浜松ホトニクス社製InGaAsを採用 ※今ならデモ機貸し出し中です！ 詳細は、カタログをダウンロードするかお問い合わせください。
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基本情報
【特徴】 ■DLP(R)テクノロジーを用いて、これまでにない低価格を実現 ■近赤外対象900～1700nm ■浜松ホトニクス社製InGaAsを採用 ■S/N比6000：1の低ノイズ ■電源供給はUSBバスパワー ■反射測定用ランプ内蔵 ■入射口はSapphireウィンドウ/SMAコネクタ切替え式 ■迷光除去用の885nmロングパスフィルター内蔵 【使用アプリケーション】 ■拡散反射測定 ■光フィイバーを介した各種近赤外分光測定 さらに、別モデルとして1350～2490nmを対象とした分光センサーの用意もございます。
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企業情報
光測定を主に利用し、各種非破壊非接触測定及び半導体製造プロセス検査（膜厚測定、プラズマモニターなど）をおこなうデバイスをオンライン、オフライン両方に開発