軟X線を照射！基板や回路等の定性・半定量分析にも最適な光電子分光分析！
『X線光電子分光（XPS）分析』は、試料表面に軟X線を照射し、発生する 光電子の結合エネルギーを測定します。 試料を構成している元素と組成（定性分析・半定量分析）、元素の化学状態 （状態分析）を調べることができます。 検出される情報は、試料の極表面層（数nm）のものであり、Ar イオンスパッタ リングを組み合わせることで、深さ方向の測定を行うこともできます。 励起源が軟X線のため、導通がない試料の測定も可能です。 【適用対象】 ■金属全般 ■セラミックス ■半導体 ■薄膜 ■フィルム ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【分析項目】 ■広域・狭域光電子スペクトル測定による、試料構成元素の定性・半定量分析（Li～U） ■状態分析 ■上記分析とAr イオンスパッタリングを組み合わせた、深さ方向測定 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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用途／実績例
【適用例】 ■基板や回路等の表面付着物の定性・半定量分析 ■金属表面の変色原因調査 ■基板上に製膜された薄膜や、酸化皮膜等の深さ方向組成分析と状態調査 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
神鋼溶接サービス株式会社は、溶接トップメーカーの神戸製鋼所で長年に亘って培われてきた人材・設備・技術ノウハウをベースに豊富な経験と高い技術にもとづいて、主に金属材料の溶接・接合に関わる試験・調査・解析および溶接研修を提供する会社です。 常にお役に立てるお客様の身近なパートナーをめざし、努力してまいります。