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等方性 磁界プローブ WPH1000 30MHz~1000MHz

最終更新日:2018年04月24日

ウェーブクレスト株式会社
ウェーブクレスト株式会社
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高感度0.018A/m、等方性・RMS測定、国際標準適合の磁界プローブ WPF1000が新登場。

Wavecontrol社から新しいHフィールドブロードバンドプローブ WPH1000 登場!高感度0.018A/m、等方性・RMS測定、国際標準適合の磁界プローブ WPF1000。 【主な特徴】 ・高感度 ・等方性&実効値測定 ・優れた減衰 ・国際標準適合

    その他電子計測器強度試験装置EMC試験
WPF1000.png

Wavecontrol社 磁界プローブ WPH1000

WPF1000.png
WPF1000.png
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基本情報

【主な仕様】 周波数レンジ:30MHz - 1000MHz  センサータイプ:Isotropic, RMS 周波数応答タイプ:Flat 測定レンジ:0.018 - 20 A/m   ダイナミックレンジ: 60dB 感度:0.018 A/m 周波数レスポンス:± 0.5 dB (30 MHz -400 MHz) ± 1 dB (30 MHz - 1000 MHz) > -3 dB @ 25 MHz 校正:ISO 17025 認定 (ILAC) 操作温度:-10ºC - 50ºC 寸法:28.4 cm x 6 cm Ø 重量:95 g

価格帯

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用途/実績例

・放送: IEC62577, EN50475, EN50476, EN50496, EN50554 ・RFID/EAS: EN50364, EN50357, IEC/EN62369-1 ・誘導加熱 (HF): EN 50519 ・医療: IEC60601 ・職場評価: EN50499 ・能動埋め込み型医療機器(AIMD)装着労働者評価: EN50527-1 ・人体暴露評価: EN50413 ・研究、実験室 ・防衛

詳細情報

  • WPF1000.png

    電界プローブ WPH1000 30MHz~1000MHz .

ラインアップ(14)

型番 概要
WP400-3 1Hz–400kHz E & H fields、10V/m~400kV/m(磁界),200nT~50mT (100Hz~10kHz)(電界)
WP400 1Hz-400KHz: Selective field probe 1Hz-400KHz E & H fields
WP50 10Hz-3KHz: Broadband field probe 10Hz-3KHz E&H fields
WPF3 100KHz-3GHz: Broadband field probe 100KHz-3GHz E field 0.2-130V/m
WPF3-HP 100KHz-3GHz: Broadband field probe 100KHz-3GHz 0.2-1000V/m
WPT GSM, UMTS, 3G: 100KHz-3GHz: Broadband field probe at selected Mobile Telephony Bands, GSM, 3G, LTE
WP-Wifi 2.4GHz : Broadband field probe at selected WiFi 2.4GHz
WPF6 100KHz-6GHz: Braodband field probe 100KHz-6GHz E field 0.3-130V/m
WPF6-HP 100KHz-6GHz: Braodband field probe 100KHz-6GHz E field 0.3-1000V/m
WPF8 100KHz-8GHz: Braodband field probe 100KHz-8GHz E field 0.3-130V/m
WPF8-HP 100KHz-8GHz: Braodband field probe 100KHz-8GHz E field 0.3-1000V/m
WPF18 300KHz-18GHz: Braodband field probe 300KHz-18GHz E field 0.5-250V/m
WPF18-HP 300KHz-18GHz: Braodband field probe 300KHz-18GHz E field 0.5-1000V/m
WPH1000 30MHz~1000MHz H field 0.018~20A/m

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EMC試験・汎用計測におけるユニークで新しいソリューションを提供する企業として、ウェーブクレスト株式会社は活動しています。高度化する電子・通信環境はその製品の性能ばかりでなく社会全体の安全性をも左右する社会インフラとして、高い安全性、信頼性が求められています。従来の試験方法や機器にとらわれずマーケットが必要とする新しい製品やソリューションを提供していきたいと考えます。

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