走査型電子顕微鏡（SEM） ■業界：自動車（試作）／半導体／ロボット
単結晶ダイヤモンドチップの刃先表面を走査型電子顕微鏡（SEM）で観察しました。 PCD（ダイヤモンド焼結体）の刃先表面も観察し、比較しました。 表面の微細な凹凸の違いがはっきりと確認できました。 この違いが加工にどのように影響するか。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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確かな品質はあって当たり前。 その当たり前をもっと当たり前にしていきます。 受注から設計、加工、アッセンブリ、検査、納入に至るすべてのプロセスで品質管理を徹底して、安心して採用していただける確かな品質をつくりあげています。 2002年には国際的評価の高いテュフズードジャパンのISO9001：2000の認証を取得。 これをひとつの通過点として、確かな品質をもっと当たり前にすべく努力を重ねています
