同軸型4端子コンタクトプローブを使用した検査用ソケットです！
『W-CSP』は、ウエハよりチップをダイシング後、同軸型4端子コンタク トプローブ(PATENT)を利用して手動測定が可能な検査用ソケットです。 チップの開発や抜取り検査・不良解析などに使用可能。 ソケットの蓋は、着脱可能で、自動機(ハンドラ式)検査にも使用できます。 【特長】 ■BGA、LGA、ベアチップなどの動作確認検査が可能 ■MOS-FETのオン抵抗値測定が可能 ■端子間の電圧測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【引出し端子】 ■I端子：電流端子 ・外部導体からの引出し端子4本 ■V端子：電圧端子 ・内部導体からの引出し端子4本 ■チップサイズ ・口1.0mm ■チップのball径 ・φ0.26(0.4P) ■配線基板 ・フレキシブルプリント基板 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
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企業情報
東洋電子技研株式会社は創立37年以来、電子デバイス検査ユニット治具の 専門メーカーとして、お客様のニーズにお応えしております。 常に難易度の高い製品造りに挑戦し、お客様に満足頂ける「高品質」の製品 造りを目指しておりますので、ご要望の際はお気軽にお問い合わせ下さい。
