中性子を利用した物質の二次元画像とTOF（Time-Of-Fright）情報を測定できる中性子検出器！
『P-THIN-GEM BBTX-098』は中性子を利用した物質の二次元画像とTOF（Time-Of-Fright＝飛行時間）情報を測定できる中性子放射線検出器です。飛来した中性子を、カソード板の表面にコーティングした10B層(ボロン10同位体)で荷電粒子に変換し、GEM層で数万倍に増幅します。この信号を読出基板で座標の判定とTOFの測定を行い、SiTCPを用いてPCに転送します。 【特長】 ■中性子を利用した物質の二次元画像とTOF（Time-Of-Fright）情報を測定 ■読出基板単体での取り扱いもございます ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい
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基本情報
【仕様】 ■中性子感度：（1.8Å）0.05%～（納入時指定による） ■位置分解能：1mm（FWHM） ■時間分解能：10ns/20ns/40ns可変 ■データ出力形式：イベント形式 ■検知有効面積：100mm×100mm ■外形：270mm×40.5mm×443.6mm ※突起部、及びスタンドボード(330mm×96mm×8mm)含まず ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
株式会社BeeBeans Technologiesは、高エネルギー加速器研究機構の ベンチャー企業として発足し、様々な大学、研究機関へ高エネルギー加速器 研究機構の研究成果をソフトウェア、ハードウェアの形でご提供してまいりました。 これからも科学技術の発展の為に常に前進し続けます。
