樹脂包埋、切断、研摩などによる試料調整を行い、断面形状観察および元素分析が可能です
株式会社サンコー分析センターでは、走査型電子顕微鏡・エネルギー 分散型X線分光器を用いた分析を行っております。 走査型電子顕微鏡（SEM）では、試料に電子線を走査し、表面から発生 する二次電子や反射電子を像に変換することで試料の形状を観察。 （30倍～300,000倍） エネルギー分散型X線分光器（EDS）では、電子線を走査した際に試料から 放射される元素固有の特性X線を検出することにより元素定性分析を、 特性X線の強度を測定しファンダメンタルパラメータ法による元素の 判定量分析を行います。 また、ご指定の部位のSEM像を写真撮影してご報告。ご希望により 測長、3Dイメージ化が可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【特長】 ■走査型電子顕微鏡（SEM）により、不快焦点深度で立体感のある形状観察 （二次電子像・反射電子像）が可能 ■エネルギー分散型X線分光器（EDS）により多彩な元素分析（点・線・面）が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
株式会社サンコー分析センターは、環境保全を通じて地元産業界に貢献 したいという強い思いから1976年に設立された環境計量証明事業所です。 水質・大気・土壌・臭気等の環境測定、作業環境測定等の事業を通じて、 地域に密着したサービスを展開。 近年はそれに加えて、分析結果を基にお客様の事業環境をいかに 改善できるのかというご提案も積極的に行っています。