MOS-FET、IGBT用のR負荷スイッチングタイム測定器を使用するスイッチングタイムテスター
『SWR330A』は、オシロスコープの波形を取り込み良否の判定を行う スイッチングタイムテスターです。 MOS-FET、IGBT用のR負荷スイッチングタイム測定器でソフトウェアとの 連動により、オシロスコープの波形を取り込みます。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
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基本情報
【仕様(一部抜粋)】 ■SETTING RANGE ・MEASURABLE DEVICE：N/P MOS-FET, N/P IGBT ・TEST ITEMS：td(on), tr, td(off), tf, Eon, Eoff, Etail ・MEASUREMENT RANGE：000ns～999μs ・ID：0.1A～30.0A ・VDD：01V～300V ・VG+/VGON：0.0V～20.0V ・TIME：1μs～100μs ■DIMENSIONS&WEIGHT ・MAIN UNIT：430(W)×700(D)×245(H)…47kg ・HEAD BOX：280(W)×660(D)×225(H)…20kg ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
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企業情報
株式会社キャッツ電子設計は、半導体試験装置メーカーとして、 これまでいくつものシステムを生み出してきました。 その実績をもとにさらに新たな発想や技術が組み込まれ、 日々先進のシステム開発が行われています。 システム開発は電気的特性を検査する「テスター」と 半導体の自動搬送を行う「ハンドラー」の大きく2つに分けられます。 これらは開発設計から製品となるまで、少数精鋭による一貫した工程の なかで創り出されています。
