試料表面のパーティクルを簡単・迅速に測定可能！
『Pentagon Technologies社製 QIII』は、わずか数秒で試料表面のパーティクルを検出/測定可能な装置です。 試料表面上のパーティクルを簡単・迅速に測定でき、クリーニングの手順と基準を定量的に 規定できるため、作業者の勘と経験に頼ること無く粒子管理のバラつきを抑えます。 精密洗浄パーツの出荷前・受入時の品質確認や各種製造装置のクリーン 維持管理に適しています。 また、「QIII SM / QIII ST 」は、昨今のクリーン環境で 使用する為の、ペンタゴン社独自技術が備わっております。 【特長】 ■数秒で試料表面のパーティクル（0.1um～）を検出/計測 ■7インチ高解像度WVGAのスクリーンがもたらす、きれいではっきりした画面表示 ■計測したデータは、直接USBポート経由で、簡単にダウンロード可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【効果】 ■パーティクルに起因したトラブルの低減 ■表面洗浄度管理・定量化 ■各種装置メンテナンス回数の低減 【測定レンジ】 ■QIII SM：0.3/ 0.5/ 1.0/ 3.0/ 5.0/ 10.0 μm ■QIII ST：0.1/ 0.2/ 0.3/ 1.0/ 3.0 / 5.0 μm ■QIII SX：5/ 10/ 25/ 50/ 100/ 125 μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■精密洗浄パーツの出荷前・受入時の品質確認 ■各種製造装置のクリーン維持管理 ■クリーン化が求められる試料表面の洗浄度検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
詳細情報
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QIII SM 測定レンジ：0.3/ 0.5/ 1.0/ 3.0/ 5.0/ 10.0 μm
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QIII ST 測定レンジ：0.1/ 0.2/ 0.3/ 1.0/ 3.0 / 5.0 μm
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QIII SX 測定レンジ：5/ 10/ 25/ 50/ 100/ 125 μm
ラインアップ（3）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| QIII SM | 測定レンジ：0.3/ 0.5/ 1.0/ 3.0/ 5.0/ 10.0 μm |
| QIII ST | 測定レンジ：0.1/ 0.2/ 0.3/ 1.0/ 3.0 / 5.0 μm |
| QIII SX | 測定レンジ：5/ 10/ 25/ 50/ 100/ 125 μm |
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企業情報
株式会社エムアイティは、クリーンルームで使用される幅広い製品群から各種計測機器の販売、さらにはエンジン開発に欠かせない実験用可視化エンジンシステムの開発･提供まで、みなさまのご要望に、高い専門性で的確、迅速にお応えします。
