試料表面の微量なシミの分析から調査まで一貫してご対応します。
製品表面に発生したシミには、ケースに応じて様々な原因が考えられます。 弊社ではシミの状態に応じて、最適な分析手法を提案致します。 成分分析によるシミの原因物質の特定のみでなく、外観撮影から広がり具合の調査まで一貫して取り組み、問題を解決致します。
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基本情報
●様々なシミの分析に対応 シミ状の異常の発生原因には、様々なパターンが存在します。 当社では、有機・無機・化合物問わず、原因物質の特定を行うことが可能です。 また、シミにより表面性状に異常が見られる場合は、表面観察や形状測定(凹凸形状の調査等)により、異常部の詳細を明らかにします。 ●シミの広がり具合を調査 マッピング分析により、シミの広がり具合を調査できます。 元素を濃度で色付けすることにより、視覚的にサンプルの状態を把握することが可能です。 ●薄いシミも分析可能 酸化膜等の、ナノオーダーの非常に薄いシミも分析可能です。 ESCA/XPSを用いることにより、表面nmからの分析に対応しております。また、イオンスパッタリングにより、深さ方向の分析も可能です。
価格帯
納期
用途／実績例
●金属に発生したシミの原因物質特定 金属を始めとした無機物の表面に発生したシミ状の異常に対して、観察・成分分析により、原因物質特定から発生原因の解析まで承ります。 表面からのみでなく、断面試料作成により、断面からの分析も可能です。 ●有機系のシミ状異物の成分分析・広がり具合の確認 布、紙、樹脂など、有機系試料のシミ状異物に対しては、FT-IR(赤外線分光)による表面分析と、成分を抽出してのGC-MS(ガスクロマトグラフ)による分析に対応しております。
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企業情報
開発品の信頼性を評価する技術サービスを主な業務としています。 規格・規定通りの評価データのご提供だけでなく、評価目的に最適な手法・条件・設備のご提案や、規格外評価のためのオリジナル設備・治具の設計製作にも対応しています。 また、計測・試験・分析の3つの評価技術を複合的に取り扱っていますので、多様な設備を横断する複合業務や、より多角的な評価方法のご提案も可能です。