分光システムと顕微鏡システムを高い次元で融合！広帯域顕微分光測定を実現
『DF-1037』シリーズは、高性能な分光システムと高機能な顕微鏡システムを 高い次元で融合させた顕微分光システムです。 新設計コールドフィルターWECFの採用による広いスペクトル測定レンジ(約380～960nm)、 高解像度デジタル画像撮影、スペクトル解析ソフトウエアSCOUTを用いた 薄膜サンプルの膜厚・光学定数解析など、 高度なご要求にお答えする充実した機能が搭載されています。 【特長】 ■新設計コールドフィルターWECFを採用、広帯域顕微分光測定を実現 ■顕微分光測定と高解像度デジタル画像撮影を簡単切換 ■スペクトル解析ソフトウエアSCOUTによる膜厚、光学定数解析が可能 ■顕微分光測定と豊富な顕微鏡オプションを利用したサンプル観察を両立 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【ラインアップ】 ■DF-1037R1 反射分光測定専用タイプ(ベース顕微鏡：ニコン ECLIPSE LV-150) ■DF-1037R2 反射分光測定専用タイプ(ベース顕微鏡：ニコン ECLIPSE LV-100) ■DF-1037RT3 透過分光測定 / 反射分光測定切換タイプ(ベース顕微鏡：ニコン ECLIPSE LV-UDM) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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テクノシナジーは、お客様に適した光計測ソリューションを ご提供します。 膜厚測定、光学定数測定など、光計測・分光解析の あらゆるシーンで適した製品や技術を提供し、 お客様のご要望にお応えします。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせ下さい。