多層膜解析などの様々な膜解析アプリケーションに対応！
光学膜厚測定システム『DF-1045R1』は、反射率スペクトル測定光学系と スペクトル解析ソフトウエアの連携により、薄膜の膜厚・光学定数を 簡便に測定することができる分光システムです。 小型CCD分光器の採用により、省スペース、高速スペクトル測定を実現しました。 柔軟で高機能なスペクトル解析ソフトウエアSCOUTを搭載しているため、 多層膜解析などの様々な膜解析アプリケーションに対応します。 【特長】 ■反射率スペクトル測定機能をデスクトップサイズに凝縮 ■平行光束による入射角0°の反射率スペクトル測定を実現 ■スペクトル解析ソフトウエアSCOUTによる単層膜、 多層膜の膜厚・屈折率測定など様々な膜解析に対応 ■反射率スペクトル測定からフィッティング解析までのシークエンスを簡単操作 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【動作環境】 ■電源：AC100V±10%、50/60Hz ■消費電力：最大 100W(測定解析用PCの消費電力は別途) ■使用環境：温度 15~30°C、湿度 70%以下(結露しないこと) ■寸法 ・ステージ：250(W)×250(D)×350(H)mm 光ファイバーおよび突起部は除く ・CCD分光器：89 (W)×64(D)×32(H)mm 突起部は除く ・ハロゲン光源：62(W) ×150(D)×60(H)mm 突起部は除く ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
テクノシナジーは、お客様に適した光計測ソリューションを ご提供します。 膜厚測定、光学定数測定など、光計測・分光解析の あらゆるシーンで適した製品や技術を提供し、 お客様のご要望にお応えします。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせ下さい。