真偽判定検査装置『SIGMASCOPE GOLD B』

ＩＳＯ２１９６８準拠の渦電流位相式のハンディタイプ膜厚計です。プローブが皮膜に完全に密着している必要がなく、表面の粗い膜、小型部品、スルーホール内の銅メッキなどの膜厚測定に適しています。 またパシベーション膜があっても、非破壊で銅膜厚を直接測ることができます。 特別な専用プローブを使用することで、鉄上のニッケルの膜厚測定、鉄上の亜鉛または銅の測定（粗い面や複雑な表面形状にも適している）にも対応します。 ご興味のある方は、是非下記より製品ページまたはカタログファイルをダウンロードしてください。

電磁式と渦電流式の両方式を搭載しており、鉄上あるいは非鉄金属上の様々な皮膜の厚みを測定できます。 プローブ一体型で、簡単に高精度に測定できます。 ポケットサイズで持ち運びに便利！プローブ内蔵型と80cmのケーブルプローブタイプの2種類ございます！ 上下限値の設定が可能で、設定しておいた範囲を外れた際に光と音で分かりやすく警告お知らせします。 ご興味のある方は、是非下記より製品ページまたはカタログファイルをダウンロードしてください。

『XDV-μ』は、ポリキャピラリX線光学系を採用した汎用性の高い エネルギー分散型蛍光X線測定装置です。 特に、非常に小さい部品や構造部分を非破壊で膜厚測定・ 素材分析できるように開発されました。 半導体やコネクタといった微小な電子デバイスにおける高機能性メッキ表面処理の品質管理に最適なモデルです。 ご興味のある方は、是非下記より製品ページまたはカタログファイルをダウンロードしてください。

高性能でハンディータイプの膜厚計の『FMPシリーズ』は、電磁式と渦電流式、または両方式搭載しており、鉄上あるいは非鉄金属上の様々な皮膜の厚みを測定できます。 プローブを当てて測定する非破壊式の膜厚計です。 種類豊富な高精度測定プローブと組み合わせて、様々な形状の測定箇所に対応！ ご興味のある方は、是非下記より製品ページまたはカタログファイルをダウンロードしてください。