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最終更新日:2021年04月09日

株式会社明和eテック
株式会社明和eテック
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人と同じように良品を学習させるだけで欠品を検出!各用途の検査に導入可能!

『AI-3D検査システム』は、人と同じように良品を学習させるだけで 欠品(NG)を検出するシステムです。 光切断方式で高さを含む形状情報を取得します。 追加学習機能により、良品バラツキ・誤判定を減少させます。 各用途の検査に導入可能ですので、お気軽にご相談ください。 【特長】 ■光切断方式で高さを含む形状情報を取得 ■画像処理の知識や経験が無くてもOK ■追加学習機能により良品バラツキ・誤判定を減少 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。  WEB展示会開催中です。下記URLよりご閲覧ください。

    外観検査装置欠陥検査装置
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『AI-3D検査システム』

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  • 関連リンク - https://meiwa-e.co.jp/exhibition/

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基本情報

【仕様】 ■センサ仕様  ・125~145mm(幅)  ・±20mm(奥行方向、0基準はセンサ突端より160mm) ■計測方式:光切断方式 ■検査時間(撮影~判定)  ・通常時:検査時間8.0秒(撮影 5.0秒/検査 3.0秒)  ・高精度:検査時間12.0秒(撮影 7.0秒/検査 5.0秒) ■検査能力  ・通常時:欠陥1.0×1.0×0.5mm(縦×横×深さ)  ・高精度:欠陥0.5×0.5×0.5mm(縦×横×深さ) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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用途/実績例

【検査事例】 ■アルミ部品表面形状検査  ・打痕、欠けなど異常検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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株式会社明和eテックは、産業ソリューションとコアテクノロジーの2つ を軸に受託事業、請負事業、販売事業を展開しております。 「企画力」と「技術力」と「チームワーク」をもってお客様に愛され 信頼される明るい会社をめざします。

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