ウェハ１枚当たり約10秒で短い時間で測定でき検査工程を短縮！不良セルを従来よりも早い段階で発見し製品歩留まりを向上
太陽電池インゴット・ウェハメーカーおよびセルメーカー様へ朗報です。 ウェハ１枚当たり約10秒で短い時間で測定でき検査工程を短縮できるウェハ品質測定装置です。 ■Solution for the Clystal Technology 弊社が開発した測定技術(HS-CMR法)を搭載した太陽電池用シリコンウェハ品質測定装置は、 太陽電池用シリコンウェハの品質をセルにすることなく正確に測定することができます。 得られたデータを解析することにより、太陽電池製造コストの削減や品質向上に寄与します。 【特 長】 ◆変換効率との高い相関性 ◆１枚あたり約10秒と短い時間で測定 ◆シンプルな装置構成 ※詳しくはカタログをダウンロード頂くか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
■Solution for the Clystal Technology 弊社が開発した測定技術(HS-CMR法)を搭載した太陽電池用シリコンウェハ品質測定装置は、 太陽電池用シリコンウェハの品質をセルにすることなく正確に測定することができます。 得られたデータを解析することにより、太陽電池製造コストの削減や品質向上に寄与します。 ■製品長所 シリコンウェハの段階で、太陽電池化後のエネルギー変換効率と相関のある測定値を得ることのできる弊社の技術「HS-CMR法」です。従来の測定法ではSi結晶基板の表面のみの品質測定を行っており、太陽電池用シリコンウェハの品質測定法としては不十分でしたが、弊社の技術を搭載した測定器では、結晶内部の品質も測定することが可能で、太陽電池のエネルギー変換効率を高精度に得ることができます。また、従来の測定法に比べ、大幅に短い時間で品質測定を行うことが可能です。(従来の測定時間:30分/1枚。弊社の測定時間:10秒/1枚。)これにより、大幅な製造コストの削減が実現できます。
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太陽電池インゴット・ウェハメーカーおよびセルメーカー
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太陽電池用材料及び半導体用材料検査装置の製造・販売を行っております。 私達が開発したHS-CMR法は、太陽電池研究から生まれた新しい法則です。 太陽光発電は、唯一地球外からのエネルギーを受け取ることができる優秀な 発電方法です。私たち人類は低炭素化社会に向けて、たゆまず進み続ける 義務があります。結晶研究の最前線である東北の地から私たちは新たな 結晶技術を発信し、エネルギー問題の解決に向けて貢献していきます。 Solution for the Crystal Technology.
