「ISO/IEC10373-1、JISX6305-3規格」の耐久試験をあらゆるカードに。
ＩＣカードのモジュール部の加圧特性に関するストレス耐久試験をおこなう装置です。 カードが3個の送りローラの間を周期的に移動しモジュール部の機械的信頼性を測定します。 ガイド部品の交換で6端子カードも対応可能です。 安全機構として、非常停止スイッチとインターロック式カバーを採用。 試験機のカスタマイズ対応も可能です。 【※詳しくはお問い合わせ下さい。】
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基本情報
試験数 : １枚 曲げ速度 ： 固定 ３０回／分、可変 １０～５０回／分 加圧試験部 ： ８N荷重（ウエイト） オプション ： 15N用ウエイト 本体 ： W330×H432×D322 (mm)
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価格帯
100万円 ~ 500万円
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企業情報
私達テストラムはこの半導体産業において重要な役割を果たすテストシステムの分野で、独自の製品開発/販売を続けてまいりました。創業以来、常識や因習に固執することなく、自由闊達に技術・意見交換が行える若い社風をモットーとし、刻々と変化し続ける開発の現場で求められているものは何か、これから先求められるであろうテスターの資質とは何かを先取りする姿勢を固持。技術と、独創性においては他よりも一歩も二歩もリードするアドバンテージを主張し、創業から僅か数年で着実に信頼と、実績を築き上げてまいりました。 常に環境の変化に敏感であり、あらゆる可能性に挑むことを恐れない。新しい技術情報に耳を傾けることを怠らず、我々が得意とする分野に全社の総力を投入する。自分達の夢を信じ、可能性を語り合った創業当時からの熱意と、チャレンジャー精神を変わることのない伝統として受け継ぎ、私達はこれからも着実に時代を支える技術成果を世に送り出してまいります。