SiC試料の顕微鏡画像をカメラで撮影、リアルタイムLCD出力
『SCM-100』は、あらかじめプログラムされた電流をSiC試料の トランジスタの内蔵ダイオードに印可する機能を持った SiC顕微観察装置です。 電流印可時に電流が流れない箇所（欠陥）は発光しないため 顕微鏡に取り付けたカメラで撮影して欠陥を見つけることが可能です。 【特長】 ■撮影間隔3秒～24時間で最大撮影枚数999枚、SDカードに保存可能 ■出力電圧・出力電流・ステータス情報を最速0.1秒サンプリング可能 ■1台のＰＣで5台の電源を制御、データ保存可能 ■17インチ程度のLCDに出力させた場合、観察倍率は約60倍～約200倍 ■SiC試料の欠陥の成長をその場観察できる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【仕様(一部抜粋)】 ■可動ステージ：40X40mm ■XY可動距離：±6.5mm ■観察倍率：16インチLCD上で約60～約200倍可変 ■カメラ：PENTAX Q-S1相当（インターバル撮影可能、Cマウント、ACケーブル付） ■レンズ：Canon ズームレンズ EF-S55-250mm F4-5.6 IS II ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■SiCデバイス ■ウエハ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
当社は、“光”を紫外線から赤外線までの波長に分け、それぞれの波長と 分子や原子との相互作用を見つけて応用する光学機器メーカーです。 オンリーワンの実験装置を開発・試作し、大学等の研究者の先進的研究を支援。 高度な光学技術で特殊なニーズにお応えします。