豊富な種類のグレーティングを用意。校正用、テスト測定用に好適。
原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用の校正グレーティングです。 校正の種類や評価に応じて、適切なグレーティングをご選択頂けます。 装置の校正作業の他、学生実験などのテスト測定にもご使用頂けます。 ・Z軸校正 ・X軸またはY軸の1軸校正 ・スキャナーの水平または垂直校正 ・ノンリニアリティの検出 ・ヒステリシスの検出 ・クリープの検出 ・角変形の検出 ・クロスカップリングエフェクトの検出 ・AFM/SPMプローブのティップの形状と鋭さの評価 ・ティップの劣化・汚染防止
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基本情報
原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用の校正グレーティングです。 9種類のグレーティングを夭死しており、校正の種類や評価に応じて、適切なグレーティングをご選択頂けます。 装置の校正作業の他、学生実験などのテスト測定にもご使用頂けます。
価格帯
納期
※型名・数量によって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください
用途／実績例
・AFM/SPMの校正作業 ・学生実験などのテスト測定
詳細情報
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・グレーティング：TGZ1、TGZ2、TGZ3、TGZ4
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・グレーティング：TGQ1
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・グレーティング：TGT1
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・グレーティング：TGG1
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・グレーティング：TGX1
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・グレーティング：TDG01
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・グレーティングセット：TGS1 ・内訳：TGZ1、TGZ2、TGZ3
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・グレーティングセット：TGS2 ・内訳：TGZ1、TGZ2、TGZ3、TGT1、TGG1、TGX1
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・グレーティングセット：TGSFull ・内訳：TGZ1、TGZ2、TGZ3、TGT1、TGG1、TGX1、TGQ1、TDG01
ラインアップ（9）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| TGZ1 | Z軸校正用グレーティング ・高さ 20nm (typical) |
| TGZ2 | Z軸校正用グレーティング ・高さ 110nm (typical) |
| TGZ3 | Z軸校正用グレーティング ・高さ 520nm (typical) |
| TGZ4 | Z軸校正用グレーティング ・高さ 1517nm (typical) |
| TGQ1 | XYZ軸の同時校正用グレーティング ・3軸同時校正 ・スキャナーの水平校正 ・水平ノンリニアリティ、ヒステリシス、クリープ、クロスカップリングエフェクトの検出 |
| TGT1 | 剣山状の校正グレーティング ・AFM/SPMプローブのティップの形状と鋭さの評価 ・ティップの劣化・汚染防止 |
| TGG1 | 山の稜線状の校正グレーティング ・X軸またはY軸の校正 ・水平または垂直スキャナーのノンリニアリティ検出 ・角変形の検出 ・ティップ特性評価 |
| TGX1 | 台形状構造の一部が切り落とされたような形状の校正グレーティング ・水平スキャナーの校正 ・水平ノンリニアリティ、ヒステリシス、クリープ、クロスカップリングエフェクトの決定 ・ティップの鋭さの決定 |
| TDG01 | サブミクロンレベルの校正のためのグレーティング ・X軸またはY軸の校正 (278nm period) |
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企業情報
MSHシステムズ株式会社は、国内外の最先端の科学技術やその製品群を、いち早く日本の大学や研究機関、企業のお客様へご紹介・ご提供し、より豊かな未来社会の実現に貢献致します。 科学・技術分野での30年にわたる販売・サービス経験、およびお客様との強い信頼関係と責任ある実行力で、皆様方との良きパートナーとなるべく全力で行動します。お客様とメーカーは勿論、私たちは関わって頂ける全ての方々にご満足頂くことが、私たちの最終ゴールです。