サンプルへの入射光は擬似平行光になっており、装置由来の干渉を低減しています！
『OD-10』は、従来の分光光度計では測定が出来なかった光学濃度OD10まで 測定が出来る分光光度計です。 多層膜フィルタ・高濃度フィルタ・遮光フィルム・高濃度溶液など さまざまな低透過率のサンプル測定に好適。 ロックインアンプ方式およびフォトンカウンティング方式の組み合わせにより 高精度測定が可能となりました。 【特長】 ■可視光領域（波長350～700nm）において、光学濃度OD10までの測定が可能 ■サンプルの多重反射光や装置の迷光を低減 ■サンプルへの入射光は擬似平行光 ■装置由来の干渉スペクトルが低減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【仕様（抜粋）】 ■測定方式： ロックインアンプ方式およびフォトンカウンティング方式 ■測定波長範囲：350～700nm ■測定波長純度：0.15～6nm（連続可変） ■入射光サイズ：約Φ10mm ■測定データ保存形式：テキスト保存（CSV形式） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
弊社は、1977年9月、日本分光株式会社の関連会社として、 大学、官庁、そして企業の研究開発部門を主たる対象とし、 顧客の要望に忠実に従った分光／光計測機器の製造を 目的として発足いたしました。 これまでに、太陽電池評価装置（シリコンや色素増感型太陽電池の分光感度測定）、分光応答度測定装置（シリコンフォトダイオードや放射温度計の値付け）、光学素子測定装置（レンズやプリズムなどの透過、反射測定）、単色光照射装置、真空紫外分光光度計など、世界に1台しか存在しない装置を数多く製造して 参りました。
