非点収差を極限まで減らし、波長両端で発生していた解像度低下を大幅に改善！
『MK-300』は、新設計の収差補正光学系採用により、CCD検出受光面全域にて 空間分解能に優れたポリクロメータです。 CCD検出器（別途）を取り付けることにより、分岐バンドル光ファイバ等を 用いた多点同時分光測定や、顕微鏡との接続による分光測定等に好適。 回折格子は最大3枚まで搭載可能で、電気系コントローラを搭載しており、 USBケーブルでPCと接続し付属の専用ソフトにて波長移動及び回折格子切換を 行うことができます。 【特長】 ■新設計光学系採用のイメージング分光器 ■回折格子は最大3枚搭載可能 ■多点同時分光スペクトル測定に好適 ■観察画像の分光スペクトル測定に好適 ■2検知器切換タイプもラインアップ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【仕様（抜粋）】 ■逆線分散：2.58nm/mm ■光学系：収差補正型特殊光学系 ■明るさ：F=4.4 ■波長分解能：半値幅0.2nm(3pixels以内) ■迷光：5×10^-3以下 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
弊社は、1977年9月、日本分光株式会社の関連会社として、 大学、官庁、そして企業の研究開発部門を主たる対象とし、 顧客の要望に忠実に従った分光／光計測機器の製造を 目的として発足いたしました。 これまでに、太陽電池評価装置（シリコンや色素増感型太陽電池の分光感度測定）、分光応答度測定装置（シリコンフォトダイオードや放射温度計の値付け）、光学素子測定装置（レンズやプリズムなどの透過、反射測定）、単色光照射装置、真空紫外分光光度計など、世界に1台しか存在しない装置を数多く製造して 参りました。