標準で蛍光X線分析機能を備えたSPS評価装置！
『Denbee Base SPS』は、最大300mmφのサンプルを非破壊で評価可能な SPS評価装置です。 用途により、各種励起光源（紫外線、可視光線、赤外線）及び 検出器を搭載可能。 試料をそのまま置いて即座に評価ができます。 【特長】 ■SPS法で製作した新材料の評価が可能 ■調べたい物を即座に評価可能 ■元素マッピングが自動で可能 ■操作が容易 ■要求に合わせて仕様変更可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【主な仕様（一部抜粋）】 ■マッピング機能：ステージ動作による蛍光X線像の取得 ■分析機能：蛍光X線スペクトルの測定、定性分析、定量分析（検量線法） ■対象元素：Si～U ■X線光源：最大40kV・100uA、空冷式 ターゲットはAg/W/Pd/Rhから選択可 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■検査 ■スクリーニング ■不良解析 ■異物解析 ■材料開発 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
当社では、応用計測機器の研究開発と販売をはじめ、レーザー応用装置の 研究開発と販売、視覚・聴覚・味覚・触覚・嗅覚センサーの研究開発と 販売などさまざまな事業を展開しております。 また、SPS評価装置『Denbee Base SPS』などを取り扱っております。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。
