偏光・エリプソメーター・ブリュースター角など！図やグラフと共に分かりやすくご紹介。デモ可能
当資料は、分光エリプソメーターの測定原理についてご紹介しています。 電場および磁場の振動方向が規則的な光のことをいう「偏光」をはじめ、 エリプソメーターの原理、光学干渉についてなどを掲載。 図やグラフと共に分かりやすくご紹介しているので、ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容（抜粋）】 ■偏光とは ■サンプル表面の変更 ■エリプソメーターとは ■エリプソメーターの原理 ■ブリュースター角とは 〈 ウェビナーを開催いたします！※詳細 〉 ■テーマ：分光エリプソメータ 解析モデル作成手順の説明～初級編～ ■開催日時 ・4/22(木) 10:00～ ・5/13(木) 16:00～ ■内容 一般的な構造のサンプルを例にして、解析モデルの作成手順をご説明します。 有効媒質近似モデル、Cauchyモデル、Tauc-Lorentzモデルを使用した解析の説明。 ■ご参加について 当社ホームページ（下記リンク）でご確認ください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※デモのご希望の方は、下記お問い合わせボタンより”デモ希望”と記載ください。
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【その他の掲載内容】 ■光学干渉について ■解析アプローチ ■解析プロセス ■測定結果イメージ ■お問い合わせ先 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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Semilabは、世界の最先端技術の研究、製造をサポートする総合測定装置メーカーです。 半導体ウェハーからデバイスの検査に、非接触CV測定装置、ライフタイム測定装置、分光エリプソメーター、フォトルミネッセンス、DLTSシステム、シート抵抗測定装置、ナノインデンター、AFMなどを取り扱いしています。 装置の仕様や価格などお気軽にお問合せ下さい。