お客様の製品開発等のスピードアップ、および製品品質向上に貢献いたします
当社は、半導体を中心としたエレクトロニクス分野及び自動車分野、 またライフサイエンス分野、材料分野において、お客様のご要望に応じて 信頼性試験、故障解析、材料分析のワンストップサービスをご提供します。 当社の名古屋ラボには、新鋭観察機器として知られている透過電子顕微鏡 （Talos・Titan）や高性能電子顕微鏡（NEOARM）を設置しており、それらの 先進設備を利用し、卓越した技術を習得したエンジニアが分析を行うことで お客様に分析結果を迅速にお届けするサービスを得意としております。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【技術的な優位性】 ■IC、発光デバイス及びフラットディスプレイの専門知識有り ■各種分析装置完備のラボ ■RA、FA、MA、SA、CA 各分野のソリューションが提案可能 ■生産性の高い先端の設備、そしてその設備を操作可能な専門知識を保有 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【提供サービス】 ■RA ・ESD試験&回路デザイン ・信頼性試験 ・非量産品のパッケージ封止 ■FA ・レベル1非破壊検査 ・レベル2電気的不良解 ・レベル3物理的故障解析 ■Project ・訴訟鑑定用の分析 ・不具合品の検証 ・知的財産権侵害検証 など ■MA、SA、CA ・材料分析 ・構造解析 ・表面分析 ・化学分析 ■CKT ・FIB回路修正 ・ICボンディング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
当社は、ISO/IEC17025に基づく独立試験機関として、 またエレクトロニクス先端技術と、知的財産権の取り扱いについて 台湾政府より認可を受けた研究所として、国際基準に則った信頼性の高い 分析・試験サービスを実施いたします。 技術メンバーの大半が、(国立)工業技術研究院/ITRIや 大手半導体デバイスメーカのR&D部門やFA部門出身者であることより、 半導体・FPDデバイスの実プロセスに即した提案型の 分析・解析サービスを行っております。 現在、世界15カ国のお客様と取引実績があり、各国研究機関や 分析機関とのパートナーシップのもと、当社の専門性をもとに R&Dパートナーとしての貢献を目指しております。
