チップデバイスを高温測定検査可能な マニュアルハンドラ 温度 ～250℃
チップデバイスを高温 ～250℃ で測定可能な マニュアルハンドラー チップをテーブルに乗せて スタート デバイスを取り込み 自動で測定 排出 250℃までのデバイス過熱が可能 コンタクトはプローブピンを使用 支給コンタクトがあれば 対応
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基本情報
装置サイズ W 500mm D 400mm H 370mm テーブルにチップをセット スタートして テーブルが測定部へ移動 高温時は 設定加熱時間後自動測定 その後テーブル排出 テーブルへ 絶縁性確保のためガルデン液を注入も可能
価格帯
100万円 ~ 500万円
納期
用途／実績例
チップデバイスの高温状態における電気特性検査用装置 マニュアル測定用
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企業情報
半導体検査装置 特にパワー半導体の設備の設計製作、及び販売を行っております。 検査装置のみならず 製造装置の製作も お客様のご要望に合わせて、設備を設計製作いたします。 半導体関係以外の設備も対応いたします。 ご要望の際はお気軽に、お問い合わせください。
