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固体表面ゼータ電位測定装置 SurPASS 3 セラミック膜用

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最終更新日:2026年01月05日

株式会社アントンパール・ジャパン
株式会社アントンパール・ジャパン
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表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します!

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、セラミック膜のゼータ電位を評価します。 セラミック膜用測定セルは、シングルチャンネル及びマルチチャンネルのどちらの微量濾過用チューブ状セラミック膜にも対応します。ゼータ電位分析により、セラミック膜の表面電荷に直接アクセスできます。 SurPASS3では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動

    分析機器・装置
SurPASS.jpg

固体表面ゼータ電位測定装置 SurPASS 3 セラミック膜用

SurPASS.jpg
SurPASS.jpg Cell_Ceramic_membranes.jpg Cell_Ceramic_membranes-2.jpg Cell_Ceramic_membranes-3.jpg
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基本情報

【測定対象】 チューブ状セラミック膜 【測定サンプルの規格】 サンプル長さ:100 mm サンプル直径:シングルチャンネル 外径 10 mmまたは 13 mm        マルチチャンネル  外径 25 mmまたは 30 mm 【測定範囲】 流動電位:± 2000 mV ± (0.2 % + 4 μV) 流動電流:± 2 mA ± (0.2 % + 1 pA) セル抵抗:5 Ω~20 MΩ ± (2 % + 0.5 Ω) 圧力測定:4000 mbar ± (0.2 % + 0.5 mbar) 圧力差が1500 mbarを超える場合は、外部圧力供給(圧縮窒素)が必要 pH   :pH 2~pH 12 導電率 :0.1~1000 mS/m 温度  :20~40 °C 【寸法】 600 mm x 432 mm x 245 mm 【重量】 26 kg

価格帯

1000万円 ~ 5000万円

納期

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用途/実績例

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固体表面のゼータ電位 SurPASS 3<最新版>

固体表面のゼータ電位 SurPASS 3<最新版>

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アントンパールは、機械工だったアントン・パールによって1922年にオーストリア・グラーツで設立されました。 現在、世界110か国以上で約4,500人の社員を擁し、研究・開発・品質管理に使用される分析機器の開発、製造、販売、サポートを世界規模で展開しています。 アントンパール・ジャパンは、Anton Paar GmbHの100%子会社として日本のお客様へアントンパール製品の販売およびサポートを提供しています。 東京(本社)と大阪(大阪営業所)にオフィスとラボを構え、ラボには粘弾性測定装置、密度・比重計、マイクロ波試料前処理装置など、ほぼ全ての装置を展示しています。 専門のアプリケーションスタッフによるサンプル測定やデモンストレーション、ユーザートレーニングなど、幅広い用途でご活用いただけます。

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