“全数検査”が実現します！1枚トレイ供給タイプの三次元・二次元外観検査装置
『PVI-500』は、BGA/CSP/WLCSPの二次元三次元の外観検査を高速高精度で 行なうための装置です。 二次元外観は上面、下面をCCDカメラで検査、三次元外観は非走査マルチビーム 共焦点3Dセンサーで検査します。 統計機能が豊富で品質管理、良品率アップが実現でき、コンパクトな装置サイズで 設置場所を取りません。 【特長】 ■三次元外観検査では特にコプラナリテイ、スタンドオフを高精度で計測できる ■二次元外観検査では、製品上面、下面の様々な外観検査が可能 ■良品のトレイ収納はカメラによるアライメント機能により正確に行う ■統計機能が豊富で品質管理、良品率アップが実現できる ■コンパクトな装置サイズで設置場所を取らない ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【対象物】 ■ボール径：0.25〜0.76mm ■ピッチ：0.4mm〜 ■PGK外形：3〜55mm ■PGK厚さ：最大5mm ■対象トレイ：JEDEC ■トレイ供給数：1枚 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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用途／実績例
【用途】 ■BGA/CSP/WLCSPの二次元三次元の外観検査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
新光エンジニアリング株式会社は創業から今日まで情報通信技術関連の装置、システムの設計製作分野で常に独自の製品を作り続けてまいりました。特にメカトロ機器、搬送装置におけるモーター駆動技術、検査／計測装置における画像処理技術、レーザー技術の応用製品、さらにそれら単体装置をＦＡシステムとして統合したＣＩＭに常に独自性を発揮してまいりました。 私たちの使命はこれまでに蓄積された技術力を遺憾なく発揮し、今まで以上にお客様にお喜びいただくような製品、装置を世に送り出すことと考えております。 今後さらに高度に進歩していく情報通信技術分野において、常に独自性を発揮しオンリーワン企業を目指します。
