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【曲面でも見逃さない 微細欠陥検査技術】 光学検査技術

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最終更新日:2026年07月17日

東芝情報システム株式会社
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深さ数μmの微小なキズや異物も見逃さない。目視検査に頼っていた欠陥検知を、独自の散乱光検出技術によってワンショットで撮像・検知!

製造現場・外観検査工程でこのような 「微細欠陥検査」 の課題はありませんか? ● 微細なキズなどがカメラに映らず、熟練検査員の目視検査とせざるを得ない ● 作業員ごとの検査品質のばらつき ● 明確な検査エビデンスが残らない ● 少子高齢化による検査員の人手不足                           ▼ ワンショットで“見える化” 微細欠陥可視化 ! 光学検査技術 OneShotBRDF が解決します! 光学検査技術OneShotBRDFとは、光の反射角度を選択する「多波長超同軸開口フィルター」を組み合わせた独自の手法により、欠陥凹凸のわずかな散乱光をワンショットで撮像可能にする技術です。 ――― ポイント ――――――――――――――――――――― ◆ 認識困難なミクロなキズや凹凸を可視化 ◆ 多波長同軸開口フィルタによる散乱光識別でワンショットで高速検査 ◆ 散乱光を色分離し、微細欠陥を可視化 ◆検査対象物に合わせた3種類の技術をラインナップ ◆本技術はライセンスアウト方式にてご提供 ―――――――――――――――――――――――――――――

    外観検査装置欠陥検査装置その他顕微鏡・マイクロスコープ
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【曲面でも見逃さない 微細欠陥検査技術】 光学検査技術

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  • 関連リンク - https://www.tjsys.co.jp/embedded/esb-oneshotbrdf/i…
  • 特設サイト - 製品・サービス詳細 - https://pr.mono.ipros.com/tjsystem/product/

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基本情報

光学検査技術 OneShotBRDFは、熟練検査員による目視検査に頼っていた微細なキズや異物の検知を、 独自の散乱光検出技術によりワンショットで撮像・検知します。 ――― ポイント ―――――――――――――――――――――― ◆ 認識困難なミクロなキズや凹凸を可視化 ◆ 多波長同軸開口フィルタによる散乱光識別でワンショットで高速検査 ◆ 散乱光を色分離し、微細欠陥を可視化 ◆検査対象物に合わせた3種類の技術をラインナップ ◆本技術はライセンスアウト方式にてご提供 ――――――――――――――――――――――――――――― ■ 検査対象物に合わせた3種類の「OneShotBRDF」技術タイプ  TYPE1:光沢・平面素材のキズ検出          → エリアーセンサータイプ  TYPE2:光沢・平面素材(長尺・枚葉もの)のキズ検出 → ラインセンサータイプ  TYPE3:光沢・3D曲面のキズ検出             → アドバンスドエリアセンサータイプ

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ご質問・見積もりなどお気軽にお問い合わせください。 当社の製品・サービスは企業・団体・法人様向けに販売しております。

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用途/実績例

■表面探傷スコープ [東芝テリー株式会社製] 表面探傷スコープは「OneShotBRDF」を採用した製品です。 フラット面のキズをワンショットで検出するスコープです。 ・フラット面に付いた観測困難な微小傷を可視化 ・多波長同軸開口による散乱光識別で高速検査 ・画像識別困難なキズでも色で識別 ・高解像度USB3カメラ搭載でPC接続が容易

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光学検査技術 OneShotBRDF

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ものづくりワールド東京「計測・検査・センサ展」出展のご案内

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2026年7月1日(水)~3日(金)、東京ビッグサイトで開催される 「第8回 計測・検査・センサ展」 に出展する運びとなりました。 この機会にぜひご来場賜りたくご案内申し上げます。 < 出展概要 > 名称:第8回 計測・検査・センサ展 会期:2026年7月1日(水)~3日(金) 10:00-17:00 会場:東京ビッグサイト 南ホール 小間番号 S1-40 < 出展製品 > ■省電力無線メッシュネットワーク NetNucleus LPWA ■風向風速計IoTセンサー anemolink-2D ■熱・漏水・乾燥 非接触検知システム VisilantEye ■光学検査技術 OneShotBRDF ■波形特性評価アシストツール Waveform insight

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