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マクロ検査のパイオニア！ナノレベルの斑（ムラ）や凹凸を可視化します
スミックス株式会社は、主に光学検査装置の開発・製造・販売を行っている会 社です。 マクロ光学検査の有用性と可能性を半導体・液晶・NIL・その他各検査市場に提 案し、 検査工程の効率化・高感度化を通して社会に貢献することを目的として います。 コアとなる技術（OAS Technology）は、散乱光を利用したマクロ検査に特化 した独自光学系を採用しており、CDとの相関が高いマクロ検査が可能です。 【事業内容】 ■光学検査モジュールの開発・製造・販売及びカスタマイズ ■光学検査装置開発技術コンサルティング ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半透明ラベルの制御は、高度なスマートセンサーに基づく！ラベル用光学検査装置のご紹介
日本CBLが取り扱うFT SYSTEM社製の光学検査装置 『CE600-SE/VA/CR』をご紹介します。 LABEL CONTROL MACHINEは、部分的またはラップアラウンドを 問わず、さまざまな種類の容器に適用される不透明または部分的に 透明なラベルの存在を保証するのに理想的です。 ラベルプレゼンスシステムの構成は、適用されるコンテナとラベルの タイプに応じて定義。 半透明ラベルの制御は、高度なスマートセンサーに基づいています。 【特長】 ■技術：光学 ■応用：ラベル用 ■インライン ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
業界をリードする検査速度！TRIスマートライブラリーによるイージープログラミング！マルチ3Dテクノロジーによる見逃しゼロ検査！
最新の改良されたTRIの光学システムが搭載されており、安定性が向上し、速さが前のモデルと比較して最大25％向上しています。 TR7700Q SIIは、Stop-and-Goイメージングテクノロジーにより、高精度でGR＆Rが向上しています。 TRIの3D AOIテクノロジーは、焦点深度（DFF）、3Dブルーレーザー、モアレ投影など、事実上ゼロエスケープ検査に対応しています。 DFF 3Dテクノロジーは1µmの光学分解能を備え、オペレーターの再検査を減らし、運用コストを削減します。 ※製品の詳細は、下記「PDFダウンロード」よりカタログをご覧ください。
半導体デバイス製品向け、自動光学検査装置！ インナークラックの高速評価に最適です！
高解像度カメラによる、各種ワイヤーボンディング、ダイボンディング評価、大口径ウェハバンプ評価に対応！！ FOUP、カセット、マガジン等のあらゆる半導体デバイスに対応可。 ※製品の詳細は、下記「PDFダウンロード」よりカタログをご覧ください。
TR7700QM SIIは、半導体およびパッケージング業界向けの2.5 µm高解像度25MPを備え、高精度に構築されています。
•半導体およびパッケージング技術の検査。 •超高精度メトロロジーグレードの検査のための2.5μmの解像度。 •TRIのスマート検査ライブラリを使用して数分で検査する準備ができてい ます。 •フルカバレッジ検査のための複数の3Dテクノロジー。 ※製品の詳細は、下記「PDFダウンロード」よりカタログをご覧ください。
世の中で最も高感度な光センサーに薄膜ムラ検出アルゴリズムを搭載したマクロ光学検査装置
世の中で最も高感度な光センサーに薄膜ムラ検出アルゴリズムを搭載 マクロ光学検査とは、対象物に光を照射し、その反射光情報から欠陥を検出や形状を把握する技術です。 従来の目視検査や顕微鏡を使ったミクロ検査と比べ、短時間で高精度な検査結果が得られ、液晶パネルなどの成膜工程での製造品質、検査精度を飛躍的に向上させ、業界最高レベルの高感度を実現します。 協業パートナー：スミックス株式会社 マクロ光学のエキスパートで、４つの関連特許を取得。薄膜ムラ検出アルゴリズムを弊社と共同開発。
深さ数μmの微小なキズや異物も見逃さない。目視検査に頼っていた欠陥検知を、独自の散乱光検出技術によってワンショットで撮像・検知！
製造現場・外観検査工程でこのような 「微細欠陥検査」 の課題はありませんか？ ● 微細なキズなどがカメラに映らず、熟練検査員の目視検査とせざるを得ない ● 作業員ごとの検査品質のばらつき ● 明確な検査エビデンスが残らない ● 少子高齢化による検査員の人手不足 ▼ ワンショットで“見える化” 微細欠陥可視化 ！ 光学検査技術 OneShotBRDF が解決します！ 光学検査技術OneShotBRDFとは、光の反射角度を選択する「多波長超同軸開口フィルター」を組み合わせた独自の手法により、欠陥凹凸のわずかな散乱光をワンショットで撮像可能にする技術です。 ――― ポイント ――――――――――――――――――――― ◆ 認識困難なミクロなキズや凹凸を可視化 ◆ 多波長同軸開口フィルタによる散乱光識別でワンショットで高速検査 ◆ 散乱光を色分離し、微細欠陥を可視化 ◆検査対象物に合わせた3種類の技術をラインナップ ◆本技術はライセンスアウト方式にてご提供 ―――――――――――――――――――――――――――――
【ドイツから日本上陸】生基板の検品に好適！高速スキャニング＆高精細撮影による完璧な検品を
dxfファイルやガーバーデータを基準にして、基板の歪みや加工ミスを検品します。
限りない品質保証への挑戦！目視判定で数μ単位の欠陥検出が可能です
吉城光科学の『検査』技術をご紹介します。 検査環境整備と検査技術向上により、目視判定で数μ単位の欠陥検出が可能。 また、顕微鏡・マイクロスコープによる検査及びヒューマンエラーを 無くすため検査の自動化も進めており、顧客ニーズを満足させる事が 可能です。 【主要設備（抜粋）】 ■レーザー干渉計（φ150解析装置付） ■レーザー干渉計（φ60） ■オートコリメーター ■投影機 ■分光光度計 ■レーザー式光量測定器 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
4wayデジタルアダプティブフリンジパターンプロジェクションと4sideカメラに基づく次世代マルチアングル高性能AOI！
最新の検査ソフトウェアは、迅速なCADベースのプログラミングを保証し、完全にカスタマイズ可能なテンプレートを備えています。 ・マルチアングル2D + 3D ・4ウェイデジタルフリンジプロジェクター ・4サイドカメラ ・最大40 mmの3D高さ範囲対応 ・高速CoaXPressイメージング ・オプションの3Dレーザーモジュール ※製品の詳細は、カタログをダウンロードしてご覧ください。
【ドイツから日本上陸】生基板の検品に好適！高速スキャニング＆高精細撮影による完璧な検品を
dxfファイルやガーバーデータを基準にして、基板の歪みや加工ミスを検品します。
