デモ/分析受付中 動的光散乱式！測定原理としてヘテロダイン法、周波数解析法など先端技術を採用しました
広がるナノの世界において、これまでお客様に定評のあった UPAシリーズをさらに進化させ生まれたのが「NANOTRAC WAVE II」です。 測定原理としてヘテロダイン法、周波数解析法など先端技術を採用。 広範囲な濃度測定、高精度・高分解能を実現し、長年の経験の中で培われた 技術力と品質でナノに秘められた可能性をお客様にお届けします。 【特長】 ■測定原理（動的光散乱法：DLS） ■低濃度から高濃度まで安定したデータ ■ヘテロダイン法の採用 ■バックグラウンド測定 ■独自の周波数解析アルゴリズムの採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【ラインアップ】 ■粒子径測定 幅広い濃度対応 ・NANOTRAC WAVE II EX150 ■粒子径測定 ゼータ電位測定オールインワンモデル ・NANOTRAC WAVE II UZ152 ■粒子径測定 シングルナノや極低濃度サンプルに適したモデル ・NANOTRAC WAVE II UT151 ■樹脂・ガラスキュベットセルを使用可能なモデル ・NANOTRAC WAVE II Q ■粒子径測定 外部プローブモデル ・NANOTRAC FLEX ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
当社は粉粒体物性測定装置の総合メーカーです。「粉粒体」のプロフェッショナルとして常に業界をリードする技術とサービスをご提供します。