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デジタル画像解析方式 粒子径分布測定装置 カムサイザーシリーズ

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レッチェ- デジタル画像解析方式 粒子径分布測定装置 カムサイザーシリーズ

最終更新日:2026年01月15日

ヴァーダー・サイエンティフィック株式会社
ヴァーダー・サイエンティフィック株式会社
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鋳造用の砂や金属粉の測定で導入実績多数!ふるい試験よりも早く同等の結果!粒子形状も測定できる画像解析式粒子径測定装置

<カムサイザー共通特長> ・2台のデジタルカメラを使用した解析【弊社特許技術】 ・測定サンプルサイズに応じてカメラレンズを変更する必要無し ・ふるい試験と整合性のある結果を出せる ・ふるい試験と違い測定終了後に洗浄作業が不要 ・形状はアスペクト比、真円度、左右対称性、表面凹凸度、その他粒子の透明度も測定可能 ・数10万の粒子情報から、サイズや形状の粒子を検索して、画像や外形比較可(粒子ライブラリ機能) ・測定結果を3つのパラメータに対してプロット可(3-Dクラウド機能) ・「Sloss&Krumbeinの真円度および真球度」を測定可(新粒子形状ディスクリプタ機能) ■カムサイザーX2 3種類の分散媒(気流分散、自由落下分散(以上乾式)・湿式分散)から選択可 ・測定範囲0.8μm~8mm ・1秒間に300画像以上の画像撮影、画像内の粒子のサイズ・形状を、1/260秒で全て解析し、数分で数10万~数100万粒子測定が可能 ■カムサイザーP4 自由落下分散(乾式)のみ。カムサイザーX2よりも大きな粒子が測定可 ・測定範囲:20μm~30mm ・1秒間に60枚程度の画像を撮影

    その他理化学機器その他粉体機器分析機器・装置
X2P4.PNG

デジタル画像解析方式 粒子径分布測定装置 カムサイザーシリーズ

X2P4.PNG
X2P4.PNG キャプチャ1.PNG X2とライブラリ.jpg キャプチャ.PNG
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基本情報

10μm以下の微粒子は自然凝集していることが多く、粒度測定が困難なことが多々あります。 カムサイザーX2では、その凝集(2次凝集)のサイズを知りたい場合は自由落下分散方式で、凝集を取り除いて1次粒子径を知りたい場合は気流分散方式で測定することで、どちらのサイズも測定することが可能です。

価格帯

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用途/実績例

■カムサイザーX2 製薬、粉末食品、プラスチック粉末、金属粉、砥粒、セメントや砂、繊維状物質など様々な測定事例があります。 ■カムサイザーP4 砥粒、石炭やコークス、触媒、セラミックス、塩・砂糖、コーヒー豆、金属合金、製薬、プロパント、耐火材、砂など様々な測定事例があります。

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技術の歴史と選ばれる理由。粉砕・分級・熱処理のヴァーダー・サイエンティフィック ヴァーダー・サイエンティフィック株式会社は、粉砕・分級・熱処理分野の理化学機器を提供しています。日本国内では、Retsch(レッチェ) の粉砕機・ふるい振とう機などの試料前処理機器と、CARBOLITE(カーボライト) の電気炉・オーブンなどの熱処理機器を中心に取り扱っています。再現性・工程全体の見直しに向けて、粉砕・分級から焼結・灰化までを視野に入れた提案を行い、研究開発および品質管理の現場を支援します。技術の歴史と選ばれる理由を背景に、粉砕・分級・熱処理の各工程で最適なソリューションを提供します。

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