高性能な電子部品製造に貢献する高精度の粒子径分布評価
当資料では、はんだ粉・金属粉の粒度分布（粒子径分布）について 紹介しています。 金属粉の粒子径分布は、用途によって数μmからmmまで様々ですが、 その多くが10μmから100μmの間です。 金属粉の製造には、粉砕や様々な噴霧プロセスなど、様々なプロセスが 用いられますが、一般的なのは、製造段階では幅広い粒子径分布の金属粉を 「ふるい分け」することで、目的の粒子径分布を得る方法です。 【掲載内容（抜粋）】 ■アプリケーション ■金属粉の品質管理と研究開発 ■CAMSIZER X2はんだ粉の測定 ■測定例1：CAMSIZER X2によるはんだ粉の粒子径分布測定 ■測定例2：CAMSIZER X2の測定再現性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【CAMSIZER X2の特長】 ■ふるい分けと高いデータ一致性 ■極僅かに含まれる粗大粒子の高い検出能力 ■短い測定時間：1回の測定、通常1～3分間 ■試料に合わせて分散方法を選択（空気圧分散、自由落下、溶液循環） ■粒子形状測定（真円度、アスペクト比など） ■短径、長径、円相当径など様々な切り口の粒子径評価 ■高い再現性、機器間のデータ一致性 ■オペレータに依存しない簡単な操作性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
当社は粉粒体物性測定装置の総合メーカーです。「粉粒体」のプロフェッショナルとして常に業界をリードする技術とサービスをご提供します。