ワーク表面の状態を検出し、イメージングできる光干渉断層計！
当社の『光干渉断層計（OCT システム）』は、ガラスや樹脂フィルムなど、 カメラでは見切れない透明な物質・光を反射させる物質でも検出と イメージングができ、表面傷の検査に適した製品です。 非破壊、非接触でワーク表面の見えない部分を計測可能です。 また、OCTだけでなく、ビジョンカメラや検査装置、ステージ、ロボット、 搬送システムなど周辺装置を含むOCT統合システムとしてご提供できます。 【特長】 ■ご希望により波長変更を含むハード仕様の変更が可能 ■測定対象のワークに応じた解析ソフトのカスタマイズが可能 ■透明な物質・光を反射させる物質にも対応 ■非破壊、非接触で見えない部分を計測できる ■周辺装置を含むOCT統合システムとして提供可能 など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。
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基本情報
【仕様】 ■Center Wavelength：1050 nm ■Axial Resolution：7 μm ■Lateral Resolution：9 μm ■Working Distance*：25.1 mm ■Field of View*：11.2 x 11.2 mm *LSM03スキャンレンズ使用時 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。
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企業情報
シンクランド株式会社は2014年2月に設立した高精度光学設計技術をベースとした研究開発型ベンチャー企業です。 豊富な経験と知識を持った技術者が多数在籍しています。 初期光学設計から部品の選定、高効率な光学実装・組立、検査までを一貫して実施。 さらに、高機能高速電気信号処理技術を元にした駆動用電気回路の設計・製作、アルゴリズムや制御用ソフトウェアの構築などにも対応しています。 デバイスから装置機器・システムまで、幅広いお客様のご要求に応じられますので、お気軽にご相談ください。