試験後の試験片の表面の画像を比較！目視不可能なクラックの可視化と検出が可能です
『DIC Replay』は、全視野のひずみと変位のマップを作成するために 試験後の試験片の表面の画像を比較する光学的手法です。 この手法は、試験片の全2次元表面にわたってひずみと変位を可視化する ために使用可能な画像を生成。 DIC再生ソフトウェアは自己完結型の2D DICパッケージで、このソフト ウェアは、インストロン高性能ビデオ伸び計（AVE）に保存された画像と 校正データを使用して、ポストプロセシングモードで作動します。 また、ユーザーインターフェイスは、Bluehillと同じタブ付きスタイルと グラフィックデザインを採用しています。 【特長】 ■材料試験時の現象の観察（例：不連続降伏、局部くびれ、その他多数） ■目視不可能なクラックの可視化と検出 ■複数の試験片を比較することによる試験片作製方法の確認 ■標準ゲージ長の外側にある局部ひずみを特定して、規格への準拠を確認 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【標準機能】 ■軸方向ひずみ（Eyy）、軸方向変位（Ey）、横方向ひずみ（Exx）、 横方向変位（Ex）、せん断ひずみ（Exy）、最大垂直ひずみ、 および最小垂直ひずみに関する全視野のひずみと変位のマップ ■仮想ひずみゲージ ■仮想伸び計 ■手法の保存 ■プロット生成 ■Bluehill試験データ（荷重、位置など）との同期化 ■ユーザー定義による最高50 Hzのイメージ収集速度 ■3種類の操作法モード （ポストプロセシングDIC、AVEを用いた実時間ひずみ、またはこの両方） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
インストロンは1946年に、当時MIT（マサチューセッツ工科大学）で 共同研究をしていたハロルド・ヒンドマンとジョージ・バールにより設立されました。 彼らは、世界ではじめて、電気機械式（ねじ式）万能材料試験機を開発しました。 インストロンの名称は、”instrument(計測器）”と”electronics（エレクトロニクス）” から名づけられました。 インストロンの製品群は、ほぼ全ての世界市場及び産業に対応できる多様性があり、 創業以来、70年を超える試験技術と製造経験を構築する中、世界で累計5万台を超えるシステムが稼働しています。 1965年（昭和40年）に、日本国内のお客様サポートのため、インストロンジャパンがスタートしました。 現在、アメリカ、ヨーロッパ、アジアに主要拠点を置き、世界160カ国の代理店による 40か国語に対応した販売・サービスを提供しています。