カスタムも充実!ケルビン測定ソケットやカスタムソケットなどをラインアップ
東洋電子技研株式会社で取り扱っている『デバイス検査用ICソケット』を ご紹介します。 BGA、LGA、QFNなどの様々なICチップに対応する「カスタムソケット」や MPUとメモリを分離した状態で収納して評価テストを可能とする「POP用 ソケット」などをラインアップ。 テストターゲットの機器により、ケルビン測定用から映像用まで各種 ご用意しております。詳細については、ぜひ関連リンクをご覧ください。 【ラインアップ(一部)】 ■ケルビン測定ソケット ■カスタムソケット ・カクラムシェル・シリーズ ・ワンタッチ・シリーズ ■インターポーザ(ピッチ変換アダプター) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【その他ラインアップ】 ■POP(パッケージ・オン・パッケージ)用ソケット ・回転式クラムシェルタイプ ・スクリュー・クランプタイプ ・回転式ワンタッチタイプ ■チップ測定ソケット治具 ■デバイス検査用コンタクト治具 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途/実績例
【ターゲットデバイス(一部製品)】 ■ケルビン測定ソケット:ウェハレベルCSP 携帯バッテリーの電源ICなど ■デバイス検査用コンタクト治具:映像系デバイスの評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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東洋電子技研株式会社は創立37年以来、電子デバイス検査ユニット治具の 専門メーカーとして、お客様のニーズにお応えしております。 常に難易度の高い製品造りに挑戦し、お客様に満足頂ける「高品質」の製品 造りを目指しておりますので、ご要望の際はお気軽にお問い合わせ下さい。