電界強度レベルを減衰させ任意の出力で通信性能検査が可能
特長 ・TAT150のボリュームで電界強度レベルを減衰させ任意の出力で通信検査ができます。 ・T8200PROとの組み合わせで使用した場合、共振周波数測定に影響せず通信機能のID読取のみ設定された出力で検査対象からの応答があるか検査を行い、ICカード・タグ・NFCなどの動作レベルを確認できます。
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基本情報
使用用途 ・T8200PROでの使用 徐々にパワーを絞ってどこまで応答できるかを確認することで、カード・タグの実力を測る手段としてご利用頂けます。 自動機の場合はPASSの基準値を決めてカード・タグの不良判定をすることで、特定のパワーで通信が不安定（Null）になるようなカード・タグの選別にもご利用頂けます。 ・T8200PRO以外での使用 市販の分離型R/Wのアンテナ－R/Wコントローラー間にTAT150を繋ぐことで出力パワーを減衰させることができます。 近距離でのみ読み取らせたい場合や干渉対策などできるだけ磁界のレベルを抑えたい時にご利用頂けます。
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私達テストラムはこの半導体産業において重要な役割を果たすテストシステムの分野で、独自の製品開発/販売を続けてまいりました。創業以来、常識や因習に固執することなく、自由闊達に技術・意見交換が行える若い社風をモットーとし、刻々と変化し続ける開発の現場で求められているものは何か、これから先求められるであろうテスターの資質とは何かを先取りする姿勢を固持。技術と、独創性においては他よりも一歩も二歩もリードするアドバンテージを主張し、創業から僅か数年で着実に信頼と、実績を築き上げてまいりました。 常に環境の変化に敏感であり、あらゆる可能性に挑むことを恐れない。新しい技術情報に耳を傾けることを怠らず、我々が得意とする分野に全社の総力を投入する。自分達の夢を信じ、可能性を語り合った創業当時からの熱意と、チャレンジャー精神を変わることのない伝統として受け継ぎ、私達はこれからも着実に時代を支える技術成果を世に送り出してまいります。