【11月18日(金)14:00開催】群・組レンズの歩留まり改善！収差による光学系アライメント！
大好評 パルステックウェビナーの第8弾！ 光学部品の品質や光学機器の性能を波面収差にて定量化できる波面センサ（PWSシリーズ）の測定原理 や計測事例などについて講演いたします。 従来の計測手法である干渉計と比較した際のメリットや波面計測システム（LUCAS）での測定イメージ もご紹介いたします。 ウェビナー(オンラインセミナー)形式で無料にてご聴講いただけます。 会社やご自宅のパソコン、モバイル機器からご自由にご参加いただけますので、お気軽にお申し込みください。 以下のテーマにご興味のある方は是非ご聴講ください。 ・レーザー加工・露光品質改善 ・車載カメラ、産業用カメラ、撮像系レンズの完成品検査/群・組レンズの組立調整、カシメ工程での活用 ・車載デバイスなどに用いる微小光学ミラーの平面度品質検査 他
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基本情報
◇登壇者情報◇ 戸栗秀樹 パルステック工業株式会社 営業部東京営業所 係長 ◇講演スケジュール◇ 13:30 開場 14:00 開演 ・講演 ・質疑応答 ・アンケート案内 15:00 終演
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企業情報
パルステック工業は、創業当初から「研究開発型モノづくり企業」を志向し、既存製品では対応困難な省力化機器や検査設備などを数多く手掛け、 お客様の生産性の向上や品質向上に寄与してまいりました。 「ポータブル型Ｘ線残留応力測定装置」や「蛍光検出ヘッド」は、今まで培ってきた要素技術を複合することにより自社開発した製品であり、各方面から高い評価を得ています。 解決困難な課題、特注設備、共同開発、技術者派遣などお客様のニーズに合わせ、最適な解決策をご提案いたしますので、お気軽にお問い合わせください。 カスタムニーズ（特殊仕様）に対応する技術者 Ｘ線取扱技術 ・Ｘ線作業主任者 ３７名 回路設計技術 ・電気機器組立技能者 ３名 光学設計技術 ・国際光技術者 １０名 機構設計技術 ・機械設計技術者 ７名 ・金属材料試験技能者 １９名 ・３次元ＣＡＤ利用技術者 ３名 ソフトウエア開発技術 ・情報技術者 ２３名 ・ソフトウエア品質技術者 ２名 ・ＬａｂＶＩＥＷ認定資格保有者 ３名
