ソフトウェア"PHOTO-WAVEjω"を使用！球体にあたった後の散乱波を有限要素法により解析
平面波が散乱体に入射し、散乱されたときの遠方場での散乱波を 有限要素法により推定した事例をご紹介します。 電場がX軸方向に偏波した平面波をZ軸方向に入射し、この球体にあたった 後の散乱波を有限要素法により解析。 次にその結果をもとにして遠方場の散乱波を2種類の方法で推定し、 その結果を比較します。形状はフルモデルとしました。 【使用ソフトウェア】 ■PHOTO-WAVEjω ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【解析条件】 ■解析モデル ・誘電体球(半径：a)の周囲を空気(半径:R)で包む ・空気層の外周には「インピーダンス境界」を設定し、「無反射境界条件」とする ■入射する平面波 ・大きさ：X軸方向 (実部) 1[V/m] (虚部) 0[V/m] ・進行方向：Z軸方向 ・周波数：20[GHz] 波長 λ＝1.5×10^−2[m] ■誘電体球 ・比誘電率：1.56 ・誘電体球の半径(a)と空気層の半径(R)：3種類 ■散乱波を観測する遠方場の観測点：半径1.0[m]の円 ■遠方場の推定方法：外場計算による方法、多重極展開による方法 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
フォトンでは、電磁現象を利用した製品、部品などを コンピュータ上でモデル化し、 シミュレーションする 「電磁場解析用ソフトウェア」を開発しています。 従来の設計や開発の現場においては 技術者の方の経験に基づく試作と、試作品による実験を ループにした試行錯誤が中心でした しかし、実際に試作品を使った実験を行い その結果を検討するには多大な時間とコストを要します。 今後は、実験・試作ベースから解析ベースの設計への移行が 生産性向上において重要課題であり、解析ベースの 設計技術の中核となるシミュレーション技術の確立が課題となります。 このような状況の下、フォトンでは、電磁場を中心に、熱、 振動、音場などについての「解析ソフトウェア」を開発し 提供させていただいております。フォトンのソフトを 活用して頂くことで、各種工業製品の開発・設計を効率よく 行うことが出来ます。このようにして、フォトンは、 ユーザー様の製造現場において、試作の回数や開発費用の低減 開発期間の短縮を実現し、ひいてはユーザー様の競争力強化を 支援していきたいと考えています。