LEDやパワー素子の性能を最大限に引き出すジャンクション温度測定サービスのご紹介
当社では、LEDやパワー素子など主に放熱特性を評価するための「ジャンクション温度測定サービス」を行っております。 この測定は、開発時の構造設計や材料評価、パッケージ開発において重要な測定ファクターとなり、製品品質全体の信頼性の基準となります。 温度-VFの関係の測定結果を基に、通電後のVFを測定することで、ジャンクション温度をダイレクトに測定することが可能です。 【サービス事例】 ■開発時に構造設計を行う場合 ■材料開発を行った場合や、その特性を評価したい場合 ■LEDなどでは樹脂に対する熱光の影響を評価したい場合 ■パッケージ開発などにおいてその劣化特性を評価したい場合 ■量産時に信頼性で問題の調査が必要な場合 等 お客様の使用環境などの状況に合わせて、サービス全体を構築します。 お気軽にお問い合わせください。
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私たちは半導体デバイス、関連材料の研究・開発を担当されている方々の手足として問題解決のお手伝いをいたします。 (1)問題解決支援サービス 研究・開発は問題解決そのものがメインテーマです。 累計10,000件を超える関連試作の経験を活かし調査、解析、実験提案いたします。 (2)電子部品加工サービス 特にセンサー類は、専用設備対応が難しい異形なものが多くあります。 少量の場合、投資バランスが問題でスタートできない場合があります。 試作対応の経験を活かした少額投資での生産提案が可能です。 お客様で専用ライン構築されるまでの、少量時対応も行っております。 (3)試作関連治具・装置開発サービス 半導体関連材料開発当初、機能評価用の装置や治具を作製する必要が発生します。 ほとんど場合、専用評価装置が存在しますが、多機能で高額です。 開発初期段階で、単機能の比較評価用の簡易装置が必要な時にご利用いただけます。 シート関連、パッケージ樹脂、封止樹脂、蛍光体、QDなど用として実績があります。