干渉縞を高精度な解析で数値化
レーザー干渉計で観察される干渉縞画像から、研磨面の面精度や光学素子の透過面精度を数値化、可視化することで、より高精度に、より分かりやすく、品質管理の向上に有益な製品です。
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基本情報
新たに開発したIFMは、最新のOSに対応し、新規アルゴリズムの導入により測定精度が向上し、様々なニースに対応する解析機能を有します。 操作は簡単で、どなたでもお使い頂ける干渉縞解析装置です。 ご所有の干渉計にIFMを搭載する、レトロフィット（旧型を改良）にも対応致します。
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詳細情報
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数十社のユーザーのご意見、ご要望をもとに新たな干渉縞解析装置を開発し、刷新しました。 ・アイコンによる操作で、初心者でも容易に測定作業が可能 ・画像処理技術の導入による位相つなぎ精度の向上 ・様々な解析機能の追加 ⇒ゼルニケ係数：Fringe Zernike及びStandard Zernike係数の両方で解析可能 ⇒カルテシアン係数：直交座標系での解析、及び収差リムーブが可能 ⇒ユーザー定義関数での解析：Zernike、PV、Coma、Powerなどの演算機能 ⇒位相データ演算機能：平均化処理、2球面法、3平面法など様々な解析が可能 ⇒異常画像（ゴミ、キズ）自動除去機能 ・PV値、RMS値、ザイデル収差（球面/コマ/アス）、3D（鳥瞰図）、2D(等高線図)、断面解析はもちろんのこと、IRR（Irregularity）、RSI（Rotationally Symmetric Irregularity）のISO10110-5に準拠する解析も可能。
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企業情報
当社は、光学用レンズ、液晶、半導体等の生産に不可欠な製造用設備、 測定器類、研磨剤、切削・研削液、洗浄剤、薬品など各種消耗副資材の 販売を行っております。 光学用レンズを合理的に生産するため、各メーカーと共同開発、業務提携・ OEM契約等を行い、常にオリジナリティの高い商品の開発と提供に努力しています。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。