300mmウェハー対応自動接触角計
ステージ治具にはPEEKを採用。小径ウェハーにも対応。高画質500万画素メガピクセルズームレンズ採用。トレーサブル校正対応、日本製。Windows11PC別売。
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基本情報
Model Simage AUTO 300 wafer 対象サンプルサイズ axφ300mm, 測定範囲 0＜θ＜ 180 ° 角度分解能 0.1° 接触角解析公式 接線法(Auto mode) θ/2 法(Manual mode) 拡張収縮法 工業規格 ASTM D724,D5725,D5946 ISO 15989 ISO書類(オプション） 校正証明書、検査成績書、トレーサビリティ体系図 稼働域 X , Z ステージ カメラ光学系 500万画素カメラ、メガピクセルズームレンズ 対応OS Windows 11,10 ※PC別売 経時変化計測 約15fps ※PC性能に依存 ステージワークホルダー PEEK ホルダー 標準ディスペンサー 2.5-10μL micrometer head control 電源 AC100V50/60Hz 2W AC100V50/60Hz 2W 付属品 接触角解析ソフト、USBドングル、取扱説明書、検査成績書 Options オートディスペンサー、シリンジ針各種 表面自由エネルギー解析ソフト 等 標準価格（税、送料別） ask
価格帯
納期
用途／実績例
半導体ウェハーの接触角計測 小径ウェハーにも対応
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企業情報
当社は長年の経験と豊富な実績に基づきエキシマＵＶ応用技術メーカーとして企業、研究機関、大学等のさまざまなニーズに最新のエキシマ表面処理を供給いたします。 ユーザーの立場に立った仕様や予算に応じた設計製作する専門メーカーです。 エキシマUV洗浄表面改質処理と表面評価用接触角計は弊社ご相談ください。