たった一台 傾斜、高さが瞬時に同時測定可能
開発の背景 オートコリメータ方式の傾斜測定に加え、変位測定を同時にできないか？そんなお客様のご要望から開発いたしました。 元々は、ハードディスクヘッドの浮上時に発生する傾きの測定を目的に開発されましたが、現在は、スマートフォンなどに搭載されるオートフォーカス（AF）アクチュエータの測定で数多く採用されております。 特長 ・変位と傾斜の同時測定【特許第5330114号】 ・1ビームで一方向から変位、傾斜同時測定可能 ・高速測定（10K サンプリング）
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基本情報
主な仕様 測定範囲 チルト（θX-θY） ： ±60arcmin（円形範囲） 変位 （Z） ： ±1.5mm ワーキングディスタンス ： 60±0.5mm 外形寸法 ： W125×D150×H56mm 出力更新レート ： 10,000回/秒
価格帯
納期
用途／実績例
スマートフォンなどに搭載されるオートフォーカス（AF）アクチュエータVCMの測定、評価に最適 ミラーターゲットで変位（Z）と同時にチルト（θX-θY）の測定が可能
企業情報
光学非接触測定のパートナー カツラオプトシステムズへようこそ カツラオプトシステムズはオプティクス専門知識とスタッフを有する世界的なR&D企業です すべての場所で非接触測定を 測定に欠かせない精密な値を出すことが測定器に求められます、それが結果的に最終製品の品質に関わると カツラオプトシステムズは考えます 最良で最高の製品を 当社もメーカーである為に最適な生産性、正確性、技術向上を日々行いながら常に最新の技術を取り入れた 製品開発、製品を世の中に送り出しています 人によっての測定バラツキがあると最終製品に関わることになり契約はもちろんマーケットシェアを失いか ねないことになります カツラオプトシステムズの非接触測定製品はいつでもどこでも安定した測定のお手伝いをします