NDT(非破壊検査)用のX線検出器としてもご使用いただくことが可能です！
当社で取り扱う、X-Spectrum社の主力検出器『LAMBDA(ラムダ)』の 「NDT(非破壊検査)での使用」についてご紹介いたします。 バッテリー、電子部品、PCBなどの製造工程に用いて、部品の 欠損・欠陥の早期発見に役立ちます。 また、特に目視では発見することができない、小さい欠損や コンポーネント内部の欠損の発見に役立てることができます。 【使用概要】 ■ご使用方法：メソッド X線CTスキャン ・対象物に対して照射されたX線の計測 ・対象物 or 検出器を回転させ3Dデータの取得 ■分解能 ・～10μm(高速スキャン時) ・＜1μm(低速スキャン時) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【システム概要】 ■ピクセルサイズ：55µm×55µm ■センサ種類：Si、GaAs、CdTe ■チップ：Medipix3 読出チップ搭載-高速読出 ■ソフトウェア：C++Library、Python、3rd party driver for Tango&EPICS ■エネルギーレンジ：6-150+keV X-ray energy ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【NDT(非破壊検査)使用事例】 ■高速バッテリー-CTスキャン ■電子部品-ナノCTスキャン ■LAMBDA X線検出器による取得 3Dイメージ ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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