車載規格AEC-Q101・AQG-3241に準拠した高温・高湿バイアス試験を代行します！
任意の温度・湿度環境で多チャンネルを常時モニタリングします。 高電圧印加時（～1000V）の微小電流測定が可能です。 温度：-40～150℃、湿度：30～95%rhまで対応します。 コンデンサ部品や半導体製品、絶縁材料のリーク測定など。
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基本情報
パワー半導体の信頼性試験や絶縁材料のリーク電流測定などでµA以下の電流測定が可能。 ◎微小電流(～µA以下)を多チャンネルで常時モニタリング(測定)可能 ◎高電圧印可時(～1000 V)の微小電流測定が可能 ◎温度：-40～150 ℃、湿度：30～95 ％rhまで対応 ※上記電圧・電流・温度範囲外の場合にも対応いたしますのでお問い合わせください。 ▶活用例 ◎AEC-Q101、AQG-324に準拠した評価 （HTRB、HTGB、H3TRB） ◎任意の温度・湿度環境で、多数を同時に測定 ◎コンデンサ部品や半導体製品のリーク電流測定 ◎絶縁材料のリーク測定 ▶微小電流評価の課題と当社特長 温度や測定環境(ケーブルや測定ボード自体)によっても誤差が生じ、安定した測定が課題となります。また多数のサンプルを同時に試験するとなると、その測定はさらに難しいものになります。 当社では、独自で開発・構築した環境を用いて、精度の高い微小電流測定を実現しています。
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用途／実績例
自動車、半導体、電子部品、材料メーカー様などからのご依頼実績多数！ ■AEC-Q101に準拠している、高温逆バイアス試験（HTRB）・高温ゲートバイアス試験（HTGB）・高温高湿逆バイアス試験（H3TRB）です。 ■AQG-324に準拠している、高温逆バイアス試験（HTRB）・高温ゲートバイアス試験（HTGB）・高温高湿逆バイアス試験（H3TRB）です。
詳細情報
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微小電流(多チャンネル) 評価設備
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多チャンネル評価 基板
ラインアップ（6）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| AEC-Q101 | 高温逆バイアス試験（HTRB） MIL-STD-750-1 M1038 Method A |
| AEC-Q101 | 高温ゲートバイアス試験（HTGB） JESD22 A-108 |
| AEC-Q101 | 高温高湿逆バイアス試験（H3TRB） JESD22 A-101 |
| AQG-324 | 高温逆バイアス試験（HTRB） QL-05 IEC 60747-9:2007 section 7.1.4.1 (IGBT) IEC 60747-8:2010 (MOSFET) IEC 60747-2:2016 (diode) IEC 60749-23:2011 |
| AQG-324 | 高温ゲートバイアス試験（HTGB） ＱL-06 IEC 60747-9:2007 section 7.1.4.1 (IGBT) IEC 60747-8:2010 (MOSFET) IEC 60749-23:2011 |
| AQG-324 | 高温高湿逆バイアス試験（H3TRB） QL-07 IEC 60747-9:2007 (IGBT) IEC 60747-8:2010（MOSFET） IEC 60747-2:2016 (diode) IEC 60749-5:2017 |
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企業情報
開発・設計会社として、半導体周辺回路と応用製品の開発・設計・評価 シミュレーション技術により、お客様の開発設計を促進しています。