多波長レーザ搭載により、可視光から近赤外光まで一台で対応可能です。
PHEMOS-Xは半導体デバイスの故障に起因する発光・発熱などをとらえて故障箇所を特定する高解像度エミッション顕微鏡です。 1. 超高感度カメラを2台搭載可能 2. OBIRCH、DALS、EOP、レーザマーカ用の光源を最大7個まで搭載可能。 3. 様々なサンプルへの対応が可能な光学ステージを搭載
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基本情報
発光解析と発熱解析、または可視光と近赤外光といったことなる検出広域をカバーすることで、サンプルや不良モードにあわせた解析技術を選択できます。
価格帯
1億円 ~
納期
用途／実績例
半導体の解析に用います。
企業情報
当社は人財資源を大切にし、お客様の信頼の礎に堅実経営を実践し成長してまいりました。 人と人とのつながりを大切にし、お客様からその存在意義を認めて頂ける会社として存続して行こうと決めています。 そして世の中は変わりつつあります。それもかなりのスピードで。 私達は過去の成功体験を忘れようと考えています。従来の方法を踏襲しても新しい価値は何も生まれません。 他所ではしないこと、出来ないことに注力し私達の全精力を資源投入して行きます。 小さくてもお客様に、より信頼感を得、感動してもらう会社になろうと思っております。