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フィルム/ディスプレイ検査ソリューション『PI-S200』

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最終更新日:2024年11月28日

テクノス株式会社
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2次元輝度計とAIの連携により、簡単にシステム化が可能!

当社で提供するフィルム/ディスプレイ検査ソリューション 『PI-S200』をご紹介いたします。 2次元輝度計だからできる、フィルムのムラや傷などによる 光学特性異常をAIで検査。どなたでも簡単な操作性で、 導⼊後のシステム変更も容易です。 また、パッケージソフトにより導⼊コストが抑えられます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■AIによる光学特性異常の検査 ■低導⼊コスト ■導⼊後のシステム変更も容易 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

    欠陥検査装置
フィルムディスプレイ検査ソリューション『PI-S200』1.PNG

フィルム/ディスプレイ検査ソリューション『PI-S200』

フィルムディスプレイ検査ソリューション『PI-S200』1.PNG
フィルムディスプレイ検査ソリューション『PI-S200』1.PNG
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【⽋陥検査例】 ■フィルムのムラやキズなどの光学的な⽋陥をAIで検査 ■ディスプレイに検査パターンを表⽰させ、線⽋陥やムラなどの⽋陥をAIで検査 ■⾞載スイッチなどの発光部の光学特性の測定と合わせて、発光マークの外観⽋陥を  AIで検査 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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フィルム/ディスプレイ検査ソリューション『PI-S200』

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